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超聲波探傷儀探頭的使用方法
日期：2024-09-20 07:30
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摘要：
超聲波探傷儀探頭的使用方法
方法一、并列式：兩個探頭并列放置，探傷時兩者作同步移動。但直探頭作并列放置時，通常是一個探頭固定，另一個探頭移動，以便發(fā)現(xiàn)與探測面傾斜的缺陷。分割式探頭就是將兩個并列的探頭組合在一起，具有盲區(qū)小、較高的分辨能力和信噪比，適用于薄試件，近表面缺陷的探傷。
方法二、交叉式：兩個探頭軸線交叉，交叉點為要探測的部位。此種探傷方法可用來發(fā)現(xiàn)與探測面垂直的片狀缺陷，在焊縫探傷中，常用來發(fā)現(xiàn)橫向缺陷。
V型串列式
兩探頭相對放置在同一面上，一個探頭發(fā)射的聲波被缺...
超聲波探傷儀探頭的使用方法
方法一、并列式：兩個探頭并列放置，探傷時兩者作同步移動。但直探頭作并列放置時，通常是一個探頭固定，另一個探頭移動，以便發(fā)現(xiàn)與探測面傾斜的缺陷。分割式探頭就是將兩個并列的探頭組合在一起，具有盲區(qū)小、較高的分辨能力和信噪比，適用于薄試件，近表面缺陷的探傷。方法二、交叉式：兩個探頭軸線交叉，交叉點為要探測的部位。此種探傷方法可用來發(fā)現(xiàn)與探測面垂直的片狀缺陷，在焊縫探傷中，常用來發(fā)現(xiàn)橫向缺陷。
V型串列式
兩探頭相對放置在同一面上，一個探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射，反射的回波剛好落在另一個探頭的入射點上，如圖。此種探傷方法主要用來發(fā)現(xiàn)與探測面平行的片狀缺陷。
K型串列式
兩探頭以相同的方向分別放置于試件的上下表面上。一個探頭發(fā)射的聲波被缺陷反射，反射的回波進入另一個探頭。此種探傷方法主要用來發(fā)現(xiàn)與探測面垂直的片狀缺陷。
注：無損檢測里面常用的是探傷技術(shù)，探傷技術(shù)里常用的是超聲波探傷儀和磁粉探傷儀，我們公司是超聲波探傷儀,磁粉探傷儀.涂層測厚儀，超聲波測厚儀的主要經(jīng)營企業(yè)，做優(yōu)良的時代產(chǎn)品。
